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dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0es_MX
dc.date.accessioned2018-04-10T03:50:39Z-
dc.date.available2018-04-10T03:50:39Z-
dc.identifier.urihttp://ri.ujat.mx//handle/20.500.12107/2216-
dc.description<em>Presentamos la captura y manipulación de</em><br /><em>micropartículas dieléctricas por medio de las</em><br /><em>pinzas ópticas. Se destacan dos resultados</em><br /><em>importantes; el método básico para atrapar una</em><br /><em>partícula con un solo haz y una técnica</em><br /><em>interferométrica de atrapamiento múltiple. En el</em><br /><em>segundo caso es posible la segregación, es decir,</em><br /><em>la separación de partículas tanto por tamaño</em><br /><em>como por índice de refracción mediante un patrón</em><br /><em>de interferencia dinámico.</em><br />-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.titleEfectos de radiación láser en sistemas de muchas partículas-
Aparece en las colecciones: Vol. 1, Núm. 3 (2015)

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