Análisis de captura colectiva de microesferas dieléctricas en patrones ópticos 2D

dc.date.accessioned2018-04-10T03:51:35Z
dc.date.available2018-04-10T03:51:35Z
dc.descriptionPresentamos resultados acerca de la captura y manipulación de micropartículas dieléctricas por medio de las pinzas ópticas. Se destacan dos resultados importantes; el método básico para atrapar una partícula con un solo haz y una técnica interferométrica de atrapamiento múltiple. En el segundo caso es posible la clasificación, es decir, la separación de partículas tanto por tamaño como por índice de refracción mediante un patrón de interferencia dinámico.
dc.identifier.urihttps://ri.ujat.mx/handle/20.500.12107/2228
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0es_MX
dc.titleAnálisis de captura colectiva de microesferas dieléctricas en patrones ópticos 2D

Archivos

Bloque original

Mostrando 1 - 1 de 1
Cargando...
Miniatura
Nombre:
1167-957-A.pdf
Tamaño:
875.06 KB
Formato:
Adobe Portable Document Format

Bloque de licencias

Mostrando 1 - 1 de 1
Cargando...
Miniatura
Nombre:
license.txt
Tamaño:
0 B
Formato:
Item-specific license agreed to upon submission
Descripción: