CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL DE DIVERSOS TIPOS DE ZEOLITA, POR MEDIO DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO

dc.date.accessioned2018-04-10T03:48:47Z
dc.date.available2018-04-10T03:48:47Z
dc.descriptionHoy en día los microscopios electrónicos han tenido un gran auge en cuanto a aplicaciones en la ciencia moderna ya que utiliza una fuente de electrones y lentes electromagnéticas, contando con una resolución nítida entre dos objetos o detalles. El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) está equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios, para obtener imágenes de alta resolución, un detector de electrones retrodispersados, que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie y un detector de energía dispersiva, que permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativos y de distribución de elementos en superficies. La utilización y preparación de las muestras es relativamente sencilla, las principales características son: una muestra sólida y conductora. Caso contrario, la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra a bajo vacío. Las aplicaciones del equipo son muy variadas, en este trabajo, un material no conductor como la zeolita natural y compositos de TiO2-zeolita natural fueron sintetizados y caracterizados en un MEB de emisión de campo y de alta resolución. En ambos materiales, el análisis de sus principales propiedades morfológicas es particularmente importante ya que poseen diversos sistemas de canal que pueden ser afectadas por procesos de síntesis y ser identificados fácilmente bajo esta técnica de caracterización. 
dc.identifier.urihttps://ri.ujat.mx/handle/20.500.12107/2192
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0es_MX
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