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https://ri.ujat.mx/handle/20.500.12107/2192Registro completo de metadatos
| Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
|---|---|---|
| dc.rights.license | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0 | es_MX |
| dc.date.accessioned | 2018-04-10T03:48:47Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-10T03:48:47Z | - |
| dc.identifier.uri | http://ri.ujat.mx//handle/20.500.12107/2192 | - |
| dc.description | Hoy en día los microscopios electrónicos han tenido un gran auge en cuanto a aplicaciones en la ciencia moderna ya que utiliza una fuente de electrones y lentes electromagnéticas, contando con una resolución nítida entre dos objetos o detalles. El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) está equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios, para obtener imágenes de alta resolución, un detector de electrones retrodispersados, que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie y un detector de energía dispersiva, que permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativos y de distribución de elementos en superficies. La utilización y preparación de las muestras es relativamente sencilla, las principales características son: una muestra sólida y conductora. Caso contrario, la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra a bajo vacío. Las aplicaciones del equipo son muy variadas, en este trabajo, un material no conductor como la zeolita natural y compositos de TiO2-zeolita natural fueron sintetizados y caracterizados en un MEB de emisión de campo y de alta resolución. En ambos materiales, el análisis de sus principales propiedades morfológicas es particularmente importante ya que poseen diversos sistemas de canal que pueden ser afectadas por procesos de síntesis y ser identificados fácilmente bajo esta técnica de caracterización. | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_MX |
| dc.title | CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL DE DIVERSOS TIPOS DE ZEOLITA, POR MEDIO DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO | |
| Aparece en las colecciones: | Vol. 1, Núm. 2 (2017) | |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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